MCS640 碳化硅多孔陶瓷溫度高溫短波紅外熱像儀在化硅多孔陶瓷動態變化測量
由于被測的陶瓷達到一定溫度后，變為高亮物體，而高亮物體在測溫中，往往會對瞄準方式所帶來很大的影響，人肉眼無法直視高亮光，另外紅色激光瞄準光又在高亮背景中完全被掩蓋而無法看見，而采用目視取景器瞄準，則不利于精確瞄準定位，無法標定溫度數據更準確。
MCS640紅外熱像儀，采用 1μm左右的近紅外短波的探測器來實現測溫和成像。優勢是高溫陶瓷用短波測量更準確，且短波能有效穿透潔凈火焰，避免火焰造成的干擾。
MCS640 可對碳化硅多孔陶瓷溫度分布作動態測量，并記錄各點溫度數據，實時觀測整個陶瓷圓盤表面的溫度數據及溫度場的分布以及變化。可對小目標進行測量。可具有等溫線功能，對溫度分布作等溫分析，可捕捉某一區域內最高溫、最低溫、平均溫。可對同一點不同時刻溫度作曲線圖。
MCS640紅外熱像儀優點
? 高精度，0.5％的測量值
? 超過 300,000 個溫度測量點
? 恒溫傳感器具有極高的無漂移穩定性
? 千兆以太網接口
? 遠程控制操作，確保安全性
? 實時成像，最高可達 60 Hz 的更新速率
? 可聚焦或定焦鏡頭，可測極小目標和溫度差異
? 易于處理
? 極其堅固的外殼，帶防護窗，防護等級為 IP65
? 短波探測器，準確測量高溫目標和穿透潔凈火焰
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