晶體生長過程溫度測量的紅外測溫儀
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CellaCrystal系列紅外測溫儀應用于晶體生長過程中的光學溫度測量。
紅外測溫儀的高分辨率和高穩定性保證晶體生長過程中對溫度的精準控制。
晶體生長過程溫度測量應用示例
單晶硅生長過程溫度監控
紅外測溫儀在單晶硅生長過程溫度監控多晶硅生長過程溫度監控
紅外測溫儀在多晶硅生長過程溫度監控碳化硅（SiC）生長過程溫度監控
紅外測溫儀在碳化硅（SiC）生長過程溫度監控
CellaCrystal 紅外測溫儀特點
高精度的寬測量范圍：750-3000℃
極高的重復性：2K
同時評估雙色和單色通道溫度變化
功耗極低（<175 mA），使用壽命長
可通過控制按鍵調節參數
檢測鏡頭污染功能
可調焦鏡頭 ：標準鏡頭；近焦鏡頭；長焦鏡頭
三種瞄準方式：目鏡，攝像頭或激光瞄準
多種信號輸出 ：模擬電流；開關信號；RS485 信號
專用軟件可并行控制最多30 臺測溫儀
喜訊：我們可以提供樣機做短期測試!
提供樣機做短期測試
CellaCrystal 紅外測溫儀標配
CellaCrystal高溫計
5米專用導線VK 02/A
5米視頻電纜VK 02/F（攝像頭瞄準型號用）
使用說明書
其他配件必須單獨訂購！
CellaCrystal 紅外測溫儀型號
歡迎進入倍加孚(廈門)科技有限公司官方網站
生產廠家熱線：180-5987-6689
